菲希爾X射線測厚儀XDL220

菲希爾X射線測厚儀XDL220典型的應用領域有：

測量大規模生產的電鍍部件

測量超薄杜策，例如：裝飾鉻

測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層

全自動測量，如測量印刷線路板

分析電鍍溶液

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設計為界面友好的臺式測量儀器系列。根據不同的預期用途，有不同的版本。

XDL 210 型的工作臺為固定式工作臺，固定位置的 Z 軸系統。

XDL 220 型的工作臺為固定式工作臺，馬達驅動的 Z 軸系統。

XDL 230 型配有可手動操控的 X/Y 工作臺，馬達驅動的 Z 軸升降系統。

XDL 240 型則配備了馬達驅動的 X/Y 工作臺，當保護門開啟時，工作臺會自動移到放置樣品的位置。馬達驅動的可編程 Z 軸升降系統。

XDL系列儀器可選配圓形或長方形準直器，采用比例接收器，測量距離為0-80mm，使用**保護的DCM測量距離補償法。

使用高分辨率的CCD彩色攝像頭

儀器重量100kg-120kg

儀器使用時溫度范圍10℃-40℃，空氣相對濕度為≤95%，無結露

計算機要求：帶擴展卡的計算機系統

可按要求，提供額外的XDL型產品更改和XDL儀器技術咨詢