菲希爾X射線測(cè)厚儀XAN220/222 

FISCHERSCOPE XAN 222 X射線熒光檢測(cè)儀特點(diǎn)

• 為無損分析珠寶、錢幣和貴金屬特別優(yōu)化設(shè)計(jì)

• 配備固定的準(zhǔn)直器和基本慮片，特別適用于貴金屬分析

• 配備高分辨率硅漂移探測(cè)器 (SDD)，適用于更復(fù)雜的多元素分析

• 測(cè)量方向，可以非常簡(jiǎn)便地實(shí)現(xiàn)樣品定位

菲希爾X射線測(cè)厚儀Fischerscope X-ray XAN222典型應(yīng)用領(lǐng)域

• 在珠寶和鐘表行業(yè)中的黃金和貴重金屬分析

• 牙科行業(yè)中的材料合金分析

X射線測(cè)厚儀原理

XRAY測(cè)厚儀原理是根據(jù)XRAY穿透被測(cè)物時(shí)的強(qiáng)度衰減來進(jìn)行轉(zhuǎn)換測(cè)量厚度的，即測(cè)量被測(cè)鋼板所吸收的X射線量，根據(jù)該X射線的能量值，確定被測(cè)件的厚度。由X射線探測(cè)頭將接收到的信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，經(jīng)過前置放大器放大，再由測(cè)厚儀操作系統(tǒng)轉(zhuǎn)換為顯示給人們以直觀的實(shí)際厚度信號(hào)。