| 品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 環保,制藥/生物制藥,綜合 |
Fischerscope X-ray菲希爾測厚儀
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD全能選手
XDV®-SDD 是一款真正的全能型儀器，特別適用于測量<0.05µm的極薄鍍層和PPM級范圍內的材料分析。配備了全新的DPP+和功能強大的硅漂移探測器（SDD），這臺多功能儀器可以提供出色的測量結果。
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ
XDV®-μ是專為微小結構樣品的精確鍍層厚度測量和材料分析而開發。多毛細管光學器件和 DPP+ 的相互配合使得它能夠在微米級大小的測量點上也能得到優秀的信號強度，從而進行精準且高重復性的測量。
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD
XDV®-µ LD是業界優質的XRF儀器，適用于連接器和電子行業的鍍層厚度測量和材料分析，特別是對裝配完成的PCB以及形狀復雜的連接器進行測量。在擁有12mm的測量距離時，仍可以實現最小的測量點，并具有最高的穩定性和信號強度。體驗 DPP+ 與多毛細管光學系統的結合帶來的性能提升。
蘇公網安備32021402002648
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