Fischer X射線測(cè)厚儀菲希爾代理

Fischerscope X-RAY XAN500菲希爾X射線測(cè)厚儀是一款可移動(dòng)使用并且應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀，它特別適用于鍍層厚度的無(wú)損測(cè)量及材料分析。適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

菲希爾X射線測(cè)厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

測(cè)量大型工件的鍍層，如：機(jī)械零件和外殼

在電鍍過程中進(jìn)行移動(dòng)實(shí)時(shí)測(cè)量

對(duì)合金材料進(jìn)行移動(dòng)實(shí)時(shí)檢測(cè)

菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XAN500是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀。它特別適用于測(cè)量和分析超薄鍍層以及進(jìn)行材料分析。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY儀器一樣，本款儀器有著出色的精確性以及長(zhǎng)期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。

菲希爾X射線測(cè)厚儀XAN500采用先進(jìn)的硅漂移探測(cè)器能夠達(dá)到非常高的分析精度及探測(cè)靈敏度。依靠FISCHER的基本參數(shù)法，可以在沒有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測(cè)量樣品的鍍層厚度。

菲希爾X射線測(cè)厚儀使用XAN500型手持式儀器可以對(duì)大型工件以及臺(tái)式儀器難以測(cè)量的位置進(jìn)行便捷快速的測(cè)量。設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)的優(yōu)化使得儀器可以唄安全第放置到工件上，無(wú)論是鍍層測(cè)厚或者材料分析，都可以保證其測(cè)量結(jié)果的再現(xiàn)性。同時(shí)，儀器可選配便攜式智能箱，使其成為小型的臺(tái)式測(cè)量設(shè)備，以便檢測(cè)小型樣品。