菲希爾XDL220 X射線測厚儀信息

FISCHERSCOPE X-RAY XDL210

技術參數表如下：

菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XDL210 X射線熒光光譜儀，采用手動或自動方式，測量和分析印刷線路板、防護及裝飾性鍍層及大規模生產的零部件上的鍍層。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL210 FISCHERSCOPE X-RAY XDL

菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀簡介

FISCHERSCOPE X-RAY XDL是一款應用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從大眾認可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發展而來的。與上一代相類似，它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析，同時還能全自動測量大規模生產的零部件及印刷線路板。