Fischer|菲希爾X射線測(cè)量原理

Fischer|菲希爾X射線測(cè)量原理

這就是測(cè)量是如何進(jìn)行的

當(dāng)X射線設(shè)備開(kāi)始測(cè)量時(shí)，X射線管會(huì)發(fā)出高能輻射，這也被稱為‘初級(jí)’輻射。當(dāng)這些X射線擊中樣品中的一個(gè)原子時(shí)，它們會(huì)增加能量–即它們“激發(fā)"原子 - 使原子向其原子核附近發(fā)射電子，這個(gè)過(guò)程被稱為“電離"。由于這種狀態(tài)是不穩(wěn)定的，一個(gè)來(lái)自更高電子層的電子移動(dòng)來(lái)填充空隙，從而發(fā)射出“熒光"輻射。

這種二次輻射的能量水平類似指紋一樣：它是每個(gè)元素的特征。探測(cè)器接收熒光并將信號(hào)數(shù)字化。在信號(hào)經(jīng)過(guò)處理后，設(shè)備產(chǎn)生一個(gè)光譜：檢測(cè)到的光子的能級(jí)在x軸上繪制，其頻率（計(jì)數(shù)率）在y軸上繪制。樣品中的元素可以從光譜中波峰的位置（x軸方向）來(lái)識(shí)別。這些峰的水平（y軸方向）提供了有關(guān)元素濃度的信息。