泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic 3+介紹

 泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic 3+介紹

泰勒霍普森粗糙度儀參數                                                                                                                                      

技術指標：
測量范圍	±150μm	分辨率	0.01μm
測量行程（大值）	25.4mm	測量行程(小值)	0.25mm
傳感器類型	可選換	測量速度	1mm/S
測針	112/1502標準測針
	測尖半徑5μm
	112/1053替換標準測針
	測尖半徑10μm
取樣長度	0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm	參數精度	2%讀數精度+LSDμm
測量參數	Ra, Rq, Rz, Ry, Sm, Rt,	主機電源	電池或接線電源
選用參數	Pc(用于代替Rq)	WINDOWS界面圖形分析	Waviness+Roughness
	Tp%(可用于代替Rq)		曲線分析圖
數據處理器參數	Ra,Rv,Rq,Rp,Ry,Rz,RzJISIr,
	Sm,RsK,Rku,S,Pc,HSC,Rk,
	Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,A1,A2,
	Rpk,Rvk,R,Rmax,Ar,Pt,Kr,
	tp5%,Htp,Vo
微機處理參數	粗糙度參數
	Ra,Rq,Rt,Rp,Rv,Rku,Rsm,RzRTp,RHTp,……R3z.
	波紋度參數
	Wa,Wq,Wt,Wp,Wv,Wku,Wsk,Wsm,……W3z
	示濾波參數
	Pa,Pq,Pv,Pt,…Ppc
	RK參數
	Rk,RpK,Rvk,……A1,Rvk
	R+W參數
	R,Ar,Pt…HTrc
主機尺寸	130*80*65mm	主機重量	450g
數據處理機	185*140*50mm

 

 無錫駿展儀器有限責任公司起源于美國,英國,德國和其他地區的合作伙伴,與全系列的產品資源和服務,光學儀器、測量儀器、無損檢測、實驗儀器、分析儀器、測量工具測量工具和其他類型的測試設備,努力為客戶解決快速分析的測量技術挑戰,聯合提供定制化精密測量和性能分析系統解決方案，有效推動企業實現既定目標。